多选题
编号：4452115
1.X线头影测量的主要应用有
- A.可研究颅面生长发育
- B.可对牙
、颅面畸形作诊断分析 - C.可确定错畸形的矫治设计
- D.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
- E.可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
、颅面畸形作诊断分析畸形的矫治设计